關于電學量測使用的探針，一般分為以下幾大類，為您做詳細的說明
 

　　一、概述：
 

　　測試針，是用于測試PCBA的一種探針，主要做為電學信號的輸入。
 

　　表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。
 

　　探針的材質：W，ReW, A+
 

　　1.目前主要采用的材質為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。
 

　　2. A+材質的免清針，這種材質彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。
 

　　二、探針分類
 

　　探針根據(jù)電子測試用途可分為：
 

　　A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針；
 

　　B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；
 

　　C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針；
 

　　三、探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。
 

　　懸臂探針：劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type)
 

　　垂直探針：垂直型(Vertical Type)
 

　　1.ICT探針 (ICT series Probes)
 

　　一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目前應用較多的一種探針.
 

　　2.界面探針(Interface Probes)
 

　　非標準的探針
 

　　3.微型探針(MicroSeries Probes)
 

　　兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
 

　　4.開關探針(Switch Probes)
 

　　開關探針單*支探針有兩路電流.
 

　　5.高頻探針(Coaxial Probes)
 

　　用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的.
 

　　6.旋轉探針(Rotator Probes)
 

　　彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試.
 

　　7.高電流探針(High Current Probes)
 

　　探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.大的測試電流可達39amps.
 

　　8.半導體探針 (Semiconductor Probes)
 

　　直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
 

　　9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
 

　　一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長