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SPDR介電測試夾具

描述:SPDR介電測試夾具用于測量層狀介電材料的復(fù)介電常數(shù),包括LTCC襯底以及沉積在低損耗介電襯底上的鐵電薄膜;

更新時(shí)間:2022-11-11
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產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域化工,電子,印刷包裝,航天,電氣

1、SPDR介電測試夾具應(yīng)用

QWED SPDR用于測量層狀介電材料的復(fù)介電常數(shù),包括LTCC襯底以及沉積在低損耗介電襯底上的鐵電薄膜;還可用于測量各種導(dǎo)電材料(如商用電阻層,導(dǎo)電聚合物薄膜或高電阻率半導(dǎo)體)的表面電阻和電導(dǎo)率。這種測量僅適用于Rs> 5kΩ/平方的大型表面電阻樣品。

2、SPDR介電測試夾具厚度為h的樣品的測量精度

Δε/ε=±(0.0015 + Δh/h)

Δtanδ=±2*10-5 或  ±0.03*tanδ

3、工作頻率范圍

QWED SPDR使用特定諧振模式。此模式具有特定的諧振頻率,具體取決于諧振器的尺寸,但在某種程度上還取決于被測樣品的電特性。因此,每個(gè)設(shè)計(jì)的諧振器都只能用于特定的標(biāo)稱頻率,并且實(shí)際測量是在接近標(biāo)稱頻率的頻率上進(jìn)行的。

QWED SPDR基本的標(biāo)稱頻率為:1.1 GHz,1.9 GHz,2.45 GHz,5 GHz,10 GHz和15 GHz??梢愿鶕?jù)特殊要求制造其他頻率在1.1至15 GHz之間的諧振器。

4、工作溫度范圍

-2700C 至 1100C

5、測量所需的其他設(shè)備

微波頻率Q表或矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

6、測量步驟

可測量空諧振器和帶有研究樣本的諧振器的諧振頻率和Q因子。提供了軟件來確定介電常數(shù)和介電損耗正切。配備安捷倫科技的PNA / ENA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀(帶有Option 300的85071E材料測量軟件)的用戶,只需將QWED應(yīng)用程序上載到網(wǎng)絡(luò)分析儀中,并直接在其顯示屏上獲得終結(jié)果。

使用不同網(wǎng)絡(luò)分析儀的用戶需要在標(biāo)準(zhǔn)PC計(jì)算機(jī)或網(wǎng)絡(luò)分析儀(如果裝有Windows®操作系統(tǒng))上安裝用于介電特性計(jì)算的軟件。

7、其他

樣本的小大小取決于諧振器的工作頻率。以下給出了諧振器常用工作頻率對(duì)應(yīng)的小樣本尺寸。

根據(jù)工作頻率確定的小樣本尺寸

標(biāo)稱頻率 [GHz]樣品的小尺寸/直徑 [mm]樣品的推薦尺寸 [mm]樣品的大寬度 [mm]樣品的大厚度 [mm]
1.1120×120 / 120130×1801506.0
1.970×70 / 7070×1001004.1
2.45 / 2.555×55 / 5570×801003.1
5 / 5.130×30 / 3040×50901.95
1022×22 / 2230×50900.95
1514×14 / 1420×30400.6

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